Микроинтерферометр Линника МИИ-4М предназначен для получения изображения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света.
Интерференционную картинуможно наблюдать как в белом, так и в монохроматическом свете.
Измерение параметров шероховатости полированных и доведенных поверхностей, а также толщин пленок (по высоте уступов, образованных краем пленки) производят с помощью винтового окулярного микрометра МОВ-1-16х или фотоэлектрического окулярного микрометра ФОМ-2-16х с автоматической обработкой результатов измерений. (в комплект не входит и поставляется по спец заказу)
Микрометр ФОМ позволяет повысить точность измерения параметров шероховатости в два раза и производительность процесса измерения в 10 раз
В качестве источника света в микроинтерферометре используется светодиод белого свечения, который обеспечивает наилучший контраст и яркость интерференционных полос, а также высокую чувствительность метода и стабильность интерференционной картины.
Микроинтерферометр применяется в лабораториях машиностроительной промышленности и научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами качества поверхностей.
